實驗室儀器裝置後續校準週期的調整方法

實驗室儀器裝置後續校準週期的調整方法一般分為兩類，一類為反應調整法，另一類為期間核查法。

1、

反應調整法

反應法是基於裝置之前歷次校準結果進行校準週期的調整。該方法直觀且易於應用，實驗室不需要建立模型或預測將來的測量可靠性變化。反應調整法又分為簡單反應調整法和增量反應調整法。

2、

期間核查法

該方法適用於實驗室配置了核查標準、且核查標準的準確度等級高於被核查裝置的情況，實驗室可透過期間核查結果來決定是否對被核查裝置進行校準。

3

、調整方法的選擇和注意事項

簡單反應調整法和增量反應調整法都是基於裝置歷次校準結果來確定校準週期的，採用這兩種方法的前提條件是裝置未發生大修或更換，大修或更換的裝置不應參考裝置之前的歷次校準結果，而應按新裝置處理。

期間核查法只是核查裝置一個或幾個關鍵測量點

/參量，若核查的測量點和裝置

實際使用的測量點接近，則核查結果具有較強的針對性和有效性；若裝置的核查範圍遠遠小於裝置的使用範圍，則核查結果不能作為裝置是否需要校準的依據，校準週期也不宜確定的過長。

實驗室確定和調整裝置的校準週期時，除參考歷次校準結果和期間核查結果外，還應綜合考慮延長週期的風險和裝置後續校準週期調整需考慮的

相關因素。實驗室應對不同的裝置制

定合理的校準週期，過長的校準週期會導致裝置失準或失效；過短的校準週期會增加校準費用及成本。

裝置校準週期不宜超過

3 年。對於校準週期較長的裝置，實驗室應有充分有

效的技術手段

（如期間核查等）作為支撐。